Misuratore di alimentazione Keithley serie 2600, 1 canale, ±200 mV → ±200 V

Misuratore sorgente Keithley serie 2600B. La sorgente di corrente/tensione e gli strumenti di misurazione della serie 2600B sono costruiti con la tecnologia SMU di 3rd generazione Keithley. Ogni strumento strettamente integrato offre le funzionalità di un alimentatore di precisione, sorgente di corrente reale, DMM a 6 cifre, generatore di forme d'onda arbitrarie, generatore di impulsi e carico elettronico. I modelli di Source Meter della serie 2600B sono dotati di software di test basato su Java che consente una vera caratterizzazione Plug ; Play i/V attraverso qualsiasi browser, su qualsiasi computer, da qualsiasi parte del mondo. La serie 2600B rappresenta una famiglia di strumenti potenti con capacità uniche nel testare componenti e dispositivi in numerose applicazioni, tra cui ricerca e sviluppo, test di produzione, istruzione e QA/FA. Caratteristiche e vantaggi:. Sorgente di tensione/corrente con 4 quadranti e misurazione con risoluzione a 6 cifre (display VFD a 2 righe) Scegliere il modello da una serie che offre un'eccezionale gamma dinamica, impulso 10 A a 0,1 fA e 200 V a 100 nV Software di test basato su Java incorporato La tecnologia Test Script Processing (TSP) include programmi di test completi per un'eccezionale produttività a livello di sistema Tecnologia di espansione TSP-Link per il test multicanale parallelo senza un mainframe USB 2.0, LXI-C, GPIB, RS-232 e interfacce I/O digitali Driver software e strumenti di sviluppo/debug in dotazione Sono disponibili modelli che contengono strumenti con una specifica inferiore (2604B, 2614B, 2634B). Applicazioni tipiche:. Strutture di semiconduttori - Wafer / pellicole sottili Nanomateriali e dispositivi - Grafene / nanotubi di carbonio/ nanofili / nanostrutture a bassa potenza Componenti discreti e passivi - Resistenze / diodi / diodi Zener / LED, teste per unità disco, sensori - Transistor bipolari a piccolo segnale a giunzione (BJT), transistor efficaci sul campo (FET) Materiali organici e dispositivi - E-link /Elettronica stampabile Caratterizzazione dei materiali - Resistività / effetto Hall